- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 31/307 - Test sans contact utilisant des faisceaux électroniques de circuits intégrés
Détention brevets de la classe G01R 31/307
Brevets de cette classe: 74
Historique des publications depuis 10 ans
|
5
|
7
|
7
|
6
|
6
|
8
|
5
|
4
|
11
|
2
|
| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
|
Cette classe
|
|---|---|---|
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
7 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
7 |
| Applied Materials, Inc. | 16587 |
5 |
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
5 |
| Intel Corporation | 45621 |
3 |
| Micron Technology, Inc. | 24960 |
3 |
| DCG Systems, Inc. | 68 |
3 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
3 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
2 |
| Texas Instruments Incorporated | 19376 |
2 |
| Texas Instruments Japan, Ltd. | 1656 |
2 |
| Acellent Technologies, Inc. | 41 |
2 |
| Chipworks, Inc. | 8 |
2 |
| FEI Company | 851 |
2 |
| Top Engineering Co., Ltd. | 22 |
2 |
| GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte. Ltd. | 734 |
2 |
| Fujitsu Limited | 19265 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
1 |
| Renesas Electronics Corporation | 6305 |
1 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
1 |
| Autres propriétaires | 18 |